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Le CRAM06 : Centre Régional d'Analyse des Matériaux

Le CRAM06 est un organisme rattaché au CEMEF, centre de commun à MINES ParisTech et ARMINES (agréé pour le doublement du Crédit Impôt Recherche CIR jusqu’à 60%).

Le CRAM06 permet aux entreprises d’accéder à certains dispositifs expérimentaux du CEMEF pour réaliser ponctuellement des analyses, des observations ou des caractérisations.

Cette formule est intéressante pour évaluer une idée, réaliser une étude de faisabilité en préliminaire à un projet de recherche ou pour résoudre une problématique en R&D.

Exemples de moyens et de prestations proposées par le CRAM06 :



















- MEB :

Observations par microscopie électronique à balayage en mode SE ou BSE (résolution 2 à 50 nm). Cartographie de répartition et identification des éléments de composition des matériaux (EDS), profils, cartographie de répartition des éléments chimique. Mode à pression variable. Mesure des orientations cristallines par EBSD.

- XPS :

Analyse de la composition élémentaire de surface sur une épaisseur 10 nanomètres. Profil de composition par érosion. Détection d’éléments avec une concentration minimale de 0.1 à 0.3 %at (sauf H et He).

- DSC :

Calorimétrie différentielle à balayage : détermine les transitions de phase : transition vitreuse (Tg), fusion, cristallisation. Mesure des enthalpies de transformation (endothermique ou exothermique). Vitesse de balayage de 0,10°C/min à 600°C/min selon appareil utilisé. Température échantillons de -130°C à 450 °C.

- DRX :

Détermination des phases cristallines, clichés Debye Scherrer. Diffusion aux petits angles (SAXS). Analyses de texture en réflexion, transmission (polymères et métaux). Détermination des contraintes résiduelles. Mesures à chaud (ambiante jusqu’à 1100°C) avec balayage d’azote.

- DMTA :

Caractérisation des propriétés des propriétés viscoélastiques de polymères et composites en petite déformation pour des gammes de fréquence et de températures importantes. Détermine les modules (E’ ; E’’), le facteur de perte (tan δ) et les différentes températures de transition du matériau.

- Rugosimètre optique confocal :

microtopographie 3D haute résolution sans contact pour mesurer une rugosité de surface, un galbe, une dimension, l’épaisseur d’un matériau transparent. La résolution en Z est nanométrique en Z pour une plage de 110µm et micrométrique en XYZ sur 12mm.

- Microscopie optique :

Observation jusqu’à x100, analyse d’image, cristallisation in situ de polymères.

- AFM :

Mesure de topographie de surface par pointe en microscopie à force atomique. Surface 90µm x 90µm résolution sub-nanométrique.

- Indentation :

Micro et Nano-indentation. Micro-indentation à chaud. Micro-indentation In-situ avec visualisation dans un MEB en statique ou en dynamique.

- Rhéologie :

Détermination des propriétés mécaniques/en écoulement (modules viscoélastiques, viscosité …) d’un matériau (polymères, solutions, suspensions…). Rhéomètres rotatifs ou capillaires.

- Formation :

(sur demande) en caractérisation ou en mise en forme des matériaux.

Pour toutes demandes particulières contact mail : cram@mines-paristech.fr ou auprès de Frédéric Georgi, au 04.95.93.75.65
mail: frederic.georgi@mines-paristech.fr ; http://www.cemef.mines-paristech.fr

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